Изучено явление электромиграции в наноразмерных металлических проводах

Изучено явление электромиграции в наноразмерных металлических проводах

В стране и миреНаука и техника
Физики из Мэрилендского университета (США) наблюдали в эксперименте движение и изменение размера «островков» атомов на поверхности серебряных наноразмерных проводов при пропускании тока по ним.

Заинтересовавшее учёных явление электромиграции — переноса вещества под действием движущихся электронов — становится всё более значимым при уменьшении размеров схем. Сформированные ими «островки» на серебряной поверхности состояли всего из 100–100 000 атомов, а для наблюдения за изменением их состояния в случае протекания тока пришлось использовать сканирующий туннельный микроскоп.

Как выяснилось, структуры такого типа смещаются в направлении, противоположном направлению протекания тока, и постепенно уменьшаются в размерах. При этом сила воздействия электронов оказалась значительно — практически в 20 раз — выше ожидаемой, что, по мнению исследователей, позволяет использовать её для направленного перемещения атомов в наноэлектронных компонентах.

Авторам также удалось выяснить, что воздействие электронов снижается при размещении дефектов (фуллерена C60) вдоль границ «островков». «Основная причина этого заключается в том, что дефекты вызывают рассеяние электронов», — поясняет руководитель группы Эллен Уильямс (Ellen Williams).

В настоящее время учёные проводят аналогичные эксперименты с наноразмерными структурами на поверхности графена.

Схема эксперимента: игла сканирующего туннельного микроскопа контролирует смещение наноструктуры на серебряной поверхности (иллюстрация из журнала Science).

Вступайте в группу Новости города Новокузнецк в социальной сети Вконтакте, чтобы быть в курсе самых важных новостей.

всего: 426 / сегодня: 1

Комментарии /0

Смайлы

После 22:00 комментарии принимаются только от зарегистрированных пользователей ИРП "Хутор".

Авторизация через Хутор:



В стране и мире